講述幾種抗擾度試驗的目的和方法講解.

摘要:詳細(xì)地介紹了幾種抗擾度試驗的目的、方法、嚴(yán)酷度等級及要求。

關(guān)鍵詞:標(biāo)準(zhǔn)抗擾度試驗

我國電磁兼容認(rèn)證工作已經(jīng)起動,*批實施電磁兼容的產(chǎn)品類別及所含內(nèi)容也已基本確定,它們是聲音和電視廣播接收機(jī)及有關(guān)設(shè)備,信息技術(shù)設(shè)備,家用和類似用途電動、電熱器具,電動工具及類似電器、電源、照明電器、車輛機(jī)動船和火花點(diǎn)火發(fā)動機(jī)的驅(qū)動裝置、金融及貿(mào)易結(jié)算電子設(shè)備、安防電子產(chǎn)品、聲音和電視信號的電纜分配系統(tǒng)設(shè)備與部件,低壓電器。盡管產(chǎn)品不同,引用的產(chǎn)品族測試標(biāo)準(zhǔn)也不同,但其中抗擾度的試驗內(nèi)容基本相同,它們是靜電放電、射頻輻射電磁場、脈沖群、浪涌、射頻場引起的傳導(dǎo)干擾和電壓跌落等6項。為了幫助讀者對這些標(biāo)準(zhǔn)的理解,作者試圖從試驗?zāi)康?、儀器特性要求、基本配置情況、標(biāo)準(zhǔn)試驗方法和對標(biāo)準(zhǔn)的評述等方面入手,用比較簡潔的文字介紹這些試驗,以加深對標(biāo)準(zhǔn)的理解。

1IEC61000-4-2(GB/T17626.2)靜電放電抗干擾試驗

1.1靜電放電的起因

靜電放電的起因有多種,但I(xiàn)EC61000-4-2(GB/T17626.2)主要描述在低濕度情況下,通過摩擦等因素,使人體積累了靜電。當(dāng)帶有靜電的人與設(shè)備接觸時,就可能產(chǎn)生靜電放電。

1.2試驗?zāi)康?/span>

試驗單個設(shè)備或系統(tǒng)的抗靜電干擾的能力。它模擬:

(1)操作人員或物體在接觸設(shè)備時的放電。

(2)人或物體對鄰近物體的放電。

靜電放電可能產(chǎn)生的如下后果:

(1)直接通過能量交換引起半導(dǎo)體器件的損壞。

(2)放電所引起的電場與磁場變化,造成設(shè)備的誤動作。

1.3靜電放電的模擬

圖1和圖2分別給出了靜電放電發(fā)生器的基本線路和放電電流的波形。

圖1靜電放電發(fā)生器

圖2靜電放電的電流波形

圖1中高壓真空繼電器是目前*的能夠產(chǎn)生重復(fù)與高速的放電波形的器件(放電開關(guān))。圖2是標(biāo)準(zhǔn)放電電流波形,圖中Im表示電流峰值,上升時間tr=(0.7～1)ns。放電線路中的儲能電容CS代表人體電容,現(xiàn)*150pF比較合適。放電電阻Rd為330Ω,用以代表手握鑰匙或其他金屬工具的人體電阻?，F(xiàn)已證明,用這種放電狀態(tài)來體現(xiàn)人體放電的模型是足夠嚴(yán)酷的。

圖3信號發(fā)生器的輸出電壓波形

(a)未調(diào)制的射頻信號UPP=2.8VUrms=1.0V

(b)調(diào)制的射頻信號UPP=5.18VUrms=1.12V

1.4放電方式

直接放電(直接對設(shè)備的放電):接觸放電為形式;只有在不能用接觸放電的地方(如表面涂有絕緣層,計算機(jī)鍵盤縫隙等情況)才改用氣隙放電。

1.5試驗方法

有型式試驗(在實驗室進(jìn)行)及安裝現(xiàn)場試驗兩種,標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定以前者為主。

試驗中一般以1次/秒的速率進(jìn)行放電,以便讓設(shè)備對試驗未來得及響應(yīng)。另外正式試驗前要用20次/秒的放電速率,對被試設(shè)備表面很快掃視一遍,目的是找出設(shè)備對靜電放電敏感的部位。

試驗電壓要由低到高逐漸增加到規(guī)定值。

1.6試驗的嚴(yán)酷度等級

該試驗的嚴(yán)酷度等級見表1。

表1嚴(yán)酷度等級

等級

接觸放電(kV)

氣隙放電(kV)

1級2級3級4級

2468

24815

等級的選擇取決于環(huán)境等因素,但對具體的產(chǎn)品來說,往往已在相應(yīng)的產(chǎn)品或產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)中加以規(guī)定。

1.7對試驗的評述

標(biāo)準(zhǔn)中接觸放電之所以可以用比較低的試驗電壓來進(jìn)行試驗,是因為接觸放電有著極其陡峭的上升時間,其諧波成分更豐富,對設(shè)備的考核也更嚴(yán)格。

2IEC61000-4-3(GB/T17626.3)射頻輻射電磁場的抗擾度試驗該文章講述了造成射頻輻射的起因.

2.1造成射頻輻射的起因

射頻輻射電磁場對設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用時所產(chǎn)生的,其他如無線電臺、電視發(fā)射臺、移動無線電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源(以上屬有意發(fā)射),以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無意發(fā)射),也都會產(chǎn)生射頻輻射干擾。

2.2試驗?zāi)康?/span>

建立一個共同的標(biāo)準(zhǔn)來評價電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場干擾的能力。

2.3試驗的嚴(yán)酷度等級

該試驗的嚴(yán)酷度等級見表2。

表2嚴(yán)酷度等級

等級

試驗場強(qiáng)/V·m-1

123X

1310待定

其中:1級為低輻射環(huán)境,如離電臺、電視臺1km以上,附近只有小功率在使用。2級為中等輻射環(huán)境,如在不近于1m處使用小功率,為典型的商業(yè)環(huán)境。3級為較嚴(yán)酷的輻射環(huán)境,如在1m左右的地方使用,或附近有大功率發(fā)射機(jī)在工作,為典型的工業(yè)環(huán)境。

工作時所產(chǎn)生場強(qiáng)的經(jīng)驗公式:式中:P為的功率,W;d為至設(shè)備的距離,m。

上述公式反映了在離設(shè)備很近的地方使用功率較大的,會給設(shè)備造成很強(qiáng)的射頻輻射電磁場的干擾。

2.4模擬試驗

隨著技術(shù)的發(fā)展,電磁環(huán)境也隨著惡化,測試頻率已由早期的(27～500)MHz,擴(kuò)展到(80～1000)MHz。其中高頻段的擴(kuò)展是與的普遍使用有關(guān),它的工作頻率現(xiàn)已擴(kuò)展到900MHz(甚至更高);對80MHz的選擇則與對測試場地的要求、對射頻功率放大器的功率要求和對天線的選用要求有關(guān)。至于80MHz以下部分,將由IEC61000-4-6標(biāo)準(zhǔn)加以補(bǔ)充。

試驗時要用1kHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制,調(diào)制深度為80%,參見圖3(在早期的試驗標(biāo)準(zhǔn)中不需要調(diào)制)。將來有可能再增加一項鍵控調(diào)頻(歐共體標(biāo)準(zhǔn)已采用),調(diào)制頻率為200Hz,占空比為1∶1。

2.5基本試驗儀器

(1)信號發(fā)生器(主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動或手動掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時間可設(shè)定、信號的幅度能自動控制等)。

(2)功率放大器(要求在3m法或10m法的情況下,達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場強(qiáng)。對于小產(chǎn)品,也可以采用1m法進(jìn)行試驗,但當(dāng)1m法和3m法的試驗結(jié)果有爭執(zhí)時,以3m法為準(zhǔn))。

(3)天線(在不同的頻段下使用雙錐和對數(shù)周期天線。國外已有在全頻段內(nèi)使用的復(fù)合天線)。

(4)場強(qiáng)測試探頭。

(5)場強(qiáng)測試與記錄設(shè)備。

當(dāng)在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計、計算機(jī)(包括的控制軟件)、場強(qiáng)探頭的自動行走機(jī)構(gòu)等,可構(gòu)成一個完整的自動測試系統(tǒng)。

2.6試驗的場地

采用電波暗室(主要考慮場地均勻性問題。如果在這個電波暗室中還要考慮產(chǎn)品本身在工作中產(chǎn)生的電磁波干擾測試時,則這個電波暗室還涉及到與開闊場的比對問題)。

為了保證試驗結(jié)果的可比性和重復(fù)性,要對試驗場地的均勻性進(jìn)行校驗。

2.7試驗方法

試驗在電波暗室中進(jìn)行,試驗時人員不能進(jìn)入,用工業(yè)電視監(jiān)視試品的工作情況(或從試品引出可以說明試品工作狀態(tài)的信號至測定室,由專門儀器予以判定)。暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、轉(zhuǎn)臺、試品及工業(yè)電視攝象機(jī)。

工作人員、測定試品性能的儀器、信號發(fā)生器、功率計和計算機(jī)等設(shè)備在測定室里。高頻功率放大器則放在功放室里。

試驗中,對試品的布線非常講究,應(yīng)記錄在案,以便必要時重現(xiàn)試驗結(jié)果。

2.8場強(qiáng)、試驗距離與功率放大器之間的關(guān)系(僅供參考)。

場強(qiáng)、試驗距離與功率放大器的關(guān)系見表3。

表3場強(qiáng)、試驗距離與功率放大器關(guān)系

功率放大器

場強(qiáng)與試驗距離

25W

用1m法可產(chǎn)生3V/m的場強(qiáng),當(dāng)頻率高于200MHz時,用1m法可產(chǎn)生10V/m的場強(qiáng)

100W

用3m法可產(chǎn)生80%調(diào)制深度的3V/m場強(qiáng)用1m法時可產(chǎn)生10V/m的場強(qiáng)

200和500W

用3m法可在1.5m×1.5m虛擬平面上產(chǎn)生10V/m場強(qiáng),當(dāng)距離縮減時,可產(chǎn)生30V/m的場強(qiáng)

3IEC61000-4-4(GB/T17626.4)電快速瞬變脈沖群的抗擾度試驗該文章講述了電快速瞬變脈沖群的起因及后果.

3.1電快速瞬變脈沖群的起因及后果

電路中,機(jī)械開關(guān)對電感性負(fù)載的切換,通常會對同一電路的其他電氣和電子設(shè)備產(chǎn)生干擾。這類干擾的特點(diǎn)是:脈沖成群出現(xiàn)、脈沖的重復(fù)頻率較高、脈沖波形的上升時間短暫、單個脈沖的能量較低。實踐中,因電快速瞬變脈沖群造成設(shè)備故障的機(jī)率較少,但使設(shè)備產(chǎn)生誤動作的情況經(jīng)?？梢?除非有合適的對策,否則較難通過。

3.2試驗?zāi)康?/span>

進(jìn)行電快速瞬變脈沖群試驗的目的是要對電氣和電子設(shè)備建立一個評價抗擊電快速瞬變脈沖群的共同依據(jù)。

圖4快速瞬變脈沖群發(fā)生器

注:U—高壓電源RS—波形形成電阻RC—充電電阻

Rm—阻抗匹配電阻CC—貯能電容Cd—隔直電容

圖5電快速瞬變脈沖群

(a)接50Ω負(fù)載時單個脈沖波形

(b)單脈沖重復(fù)周期

(c)脈沖群周期

3.3電快速瞬變脈沖群的模擬

圖4給出了電快速瞬變脈沖群的發(fā)生器基本線路。脈沖群的波形則參見圖5所示。

對電快速瞬變脈沖群的基本要求是:

脈沖的上升時間(指10%～90%):5ns±30%;

脈沖持續(xù)時間(上升沿的50%至下降沿的50%):50ns±30%;

脈沖重復(fù)頻率:5kHz或2.5kHz;

脈沖群的持續(xù)時間:15ms;

脈沖群的重復(fù)周期:300ms;

發(fā)生器的開路輸出電壓(峰值):(0.25～4)kV;

發(fā)生器的動態(tài)輸出阻抗:50Ω±20%;

輸出脈沖的極性:正/負(fù);

與電源的關(guān)系:異步。

3.4試驗配置

有兩種類型的試驗:實驗室內(nèi)的型式試驗和設(shè)備安裝完畢后的現(xiàn)場試驗。標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定*種試驗是優(yōu)先采用的試驗;對于第二種試驗,只有制造商和用戶達(dá)成一致意見時,方才采用。

電快速瞬變脈沖群試驗的實驗室配置與靜電放電試驗相類似,地面上有參考接地板,接地板的材料與靜電放電的要求相同;但對臺式設(shè)備,在臺面上不要鋪設(shè)金屬板。

3.5試驗方法

(1)對電源線的試驗(包括交流和直流),通過耦合與去耦網(wǎng)絡(luò),用共模方式,在每個電源端子與zui近的保護(hù)接地點(diǎn)之間,或與參考接地板之間加試驗電壓。

(2)對控制線、信號線及通信設(shè)備,用共模方式,通過電容耦合夾子來施加試驗電壓。

(3)對于設(shè)備的保護(hù)接地端子,試驗電壓加在端子與參考接地之間。

試驗每次至少要進(jìn)行1min,而且正/負(fù)極性都屬必須。

3.6試驗的嚴(yán)酷度等級

該試驗的嚴(yán)酷度等級見表4。

表4嚴(yán)酷度等級

等級

電源線上(kV)

信號線上(5kHz)(kV)

1234X

0.5(5kHz)1(5kHz)2(5kHz)4(2.5kHz)

0.250.512待定

表內(nèi):電壓指脈沖群發(fā)生器信號貯能電容上的電壓;頻率指脈沖群內(nèi)脈沖的重復(fù)頻率。

嚴(yán)酷度等級的大體分類是:

1級保護(hù)良好環(huán)境下的設(shè)備(如計算機(jī)機(jī)房);

2級通常有保護(hù)環(huán)境下的設(shè)備(如工廠中的計算機(jī)機(jī)房和控制室);

3級無保護(hù)環(huán)境下的設(shè)備(如公用電網(wǎng)、工廠、變電站);

4級有嚴(yán)重干擾環(huán)境下的設(shè)備(如采用氣體絕緣的開關(guān)或真空開關(guān)的變電站)。該文章講述了試驗的評述和標(biāo)準(zhǔn)的今后發(fā)展趨勢.

3.7試驗的評述和標(biāo)準(zhǔn)的今后發(fā)展趨勢

試驗的機(jī)理是利用脈沖群對線路分布電容能量的積累效應(yīng),當(dāng)能量積累到一定程度就可能引起線路(乃至設(shè)備)工作出錯。通常可以用試驗中的線路一旦出錯,就會連續(xù)不斷地出錯,即使把脈沖電壓稍稍降低,出錯情況依然不斷的現(xiàn)象來加以解釋。

今后發(fā)展趨勢是脈沖的重復(fù)頻率提高,但脈沖群的長度縮短,使每群脈沖個數(shù)基本保持不變。

4IEC61000-4-5(GB/T17626.5)浪涌的抗擾度試驗

4.1浪涌的起因

(1)雷擊(主要模擬間接雷):例如,雷電擊中戶外線路,有大量電流流入外部線路或接地電阻,因而產(chǎn)生的干擾電壓;又如,間接雷擊(如云層間或云層內(nèi)的雷擊)在線路上感應(yīng)出的電壓或電流;再如,雷電擊中了鄰近物體,在其周圍建立了電磁場,當(dāng)戶外線路穿過電磁場時,在線路上感應(yīng)出了電壓和電流;還如,雷電擊中了附近的地面,地電流通過公共接地系統(tǒng)時所引入的干擾。

(2)切換瞬變:例如,主電源系統(tǒng)切換時(例如補(bǔ)償電容組的切換)產(chǎn)生的干擾;又如,同一電網(wǎng)中,在靠近設(shè)備附近有一些較大型的開關(guān)在跳動時所形成的干擾;再如,切換有諧振線路的晶閘管設(shè)備;還如,各種系統(tǒng)性的故障,例如設(shè)備接地網(wǎng)絡(luò)或接地系統(tǒng)間產(chǎn)生的短路或飛弧故障。

4.2試驗的目的

通過模擬試驗的方法來建立一個評價電氣和電子設(shè)備抗浪涌干擾能力的共同標(biāo)準(zhǔn)。

4.3浪涌的模擬

按照IEC61000-4-5(GB/T17626.5)標(biāo)準(zhǔn)的要求,要能分別模擬在電源線上和通信線路上的浪涌試驗。由于線路的阻抗不一樣,浪涌在這兩種線路上的波形也不一樣,要分別模擬。

圖6綜合波發(fā)生器簡圖

注:U—高壓電源RS—脈沖持續(xù)期形成電阻RC—充電電阻

Rm—阻抗匹配電阻CC—儲能電容Lr—上升時間形成電感

圖7綜合試驗波

(a)1.2/50μs開路電壓波形(按IEC60?1波形規(guī)定)

波前時間:T1=1.67×T=1.2μs±30%

半峰值時間:T2=50μs±20%(b)8/20μs短路電流波形(按IEC60?1波形規(guī)定)

波前時間:T1=1.25×T=8μs±30%

半峰值時間:T2=20μs±20%

(1)主要用于電源線路試驗的1.2/50μs(電壓波)和8/20μs(電流波)的綜合波發(fā)生器

圖6是綜合波發(fā)生器的簡圖。發(fā)生器的波形則見圖7所示。

對試驗發(fā)生器的基本性能要求是:

開路電壓波:1.2/50μs;

短路電流波:8/20μs。

開路輸出電壓(峰值):0.5kV～4kV

短路輸出電流(峰值):0.25kA～2kA

發(fā)生器內(nèi)阻:2Ω(可附加電阻10或40Ω,以便形成12或42Ω的發(fā)生器內(nèi)阻)

浪涌輸出極性:正/負(fù)

浪涌移相范圍:0°～360°

zui大重復(fù)率:至少每分鐘1次

(2)用于通信線路試驗的10/700μs浪涌電壓發(fā)生器

發(fā)生器的基本線路見圖8所示。相應(yīng)的電壓浪涌

圖8CCITT電壓浪涌發(fā)生器

U—高壓電源Rm—阻抗匹配電阻(Rm1=150Ω;Rm2=25Ω)RC—充電電阻CC—儲能電容(20μF)

CS—上升時間形成電容0.2μF)

RS—脈沖持續(xù)期形成電阻(50Ω)

S1—當(dāng)使用外部匹配電阻時,此開關(guān)應(yīng)閉合

波形見圖9所示。

圖9CCITT電壓浪涌波形

波前時間:T1=1.67×T=10μs±30%

半峰值時間:T2=700μs±20%

發(fā)生器的基本性能要求是:

開路峰值輸出電壓(峰值):0.5kV～4kV

動態(tài)內(nèi)阻:40Ω

輸出極性:正/負(fù)該文章講述了試驗中要注意的幾點(diǎn).

4.4試驗方法

由于浪涌試驗的電壓和電流波形相對較緩,因此對試驗室的配置比較簡單。對于電源線上的試驗,都是通過耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)來完成的。圖10給出了單相電路的試驗線路。對于通信線路上的試驗,則和被試電路有關(guān),不一一列出。

試驗中要注意以下幾點(diǎn):

●試驗前務(wù)必按照制造商的要求加接保護(hù)措施。

●試驗速率每分種1次,不宜太快,以便給保護(hù)器件有一個性能恢復(fù)的過程。事實上,自然界的雷擊現(xiàn)象和開關(guān)站大型開關(guān)的切換也不可能有非常高的重復(fù)率現(xiàn)象存在。

●試驗,一般正/負(fù)極性各做5次。

●試驗電壓要由低到高逐漸升高,避免試品由于伏安非線性特性出現(xiàn)的假象。另外,要注意試驗電壓不要超出產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)的要求,以免帶來不必要的損壞。

4.5試驗的嚴(yán)酷度等級

各等級電源線路的試驗電壓值見表5。

表5嚴(yán)酷度等級

等級

線—線(kV)

線—地(kV)

1234X

—0.51.02.0

0.51.02.04.0待定

試驗的嚴(yán)酷度等級取決于環(huán)境及安裝條件,下面是一般的分級情況:

1級較好的保護(hù)環(huán)境,浪涌電壓不超過500V,如工廠或電站中的控制室;

2級保護(hù)環(huán)境比1級稍差,浪涌電壓不超過1kV,如無強(qiáng)干擾的工廠;

3級一般性的電磁干擾環(huán)境,無特殊安裝要求,浪涌不超過2kV,如普通安裝的電纜網(wǎng)絡(luò),工業(yè)性的工作場所和變電所等;

4級受嚴(yán)重干擾的環(huán)境,浪涌電壓可以達(dá)到4kV,如民用架空線,未加保護(hù)的高壓變電所等;

X級為特殊等級,應(yīng)根據(jù)用戶的特殊要求,由制造商和用戶協(xié)商后確定。

4.6標(biāo)準(zhǔn)的評述

現(xiàn)在有不少標(biāo)準(zhǔn)都提到要用1.2/50μs的雷擊波做試驗的情況,但是標(biāo)準(zhǔn)不同,做試驗的目的也不同,例如高壓試驗(IECpub5260270)也提到了雷擊試驗,但用于做脈沖耐壓試驗,所以用到的發(fā)生器是高電壓和高阻抗的。亦即,發(fā)生器的電壓較高,但能量并不算大。反之,對IEC61000-4-5(GB/T17626.5)標(biāo)準(zhǔn)來說,強(qiáng)調(diào)的是做在線設(shè)備的抗浪涌性能試驗,由于線路的阻抗比較低,因此發(fā)生器的輸出阻抗也要求低,這樣看來,適用于做這個標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)生器,除了要有足夠高的輸出電壓外,還要求發(fā)生器有輸出阻抗低和輸出能量大的特點(diǎn)。也就是說,這是兩種截然不同的試驗,不能混為一談。

5IEC61000-4-6(GB/T17626.6)由射頻場感應(yīng)所引起的傳導(dǎo)干擾

5.1傳導(dǎo)干擾的起因

在通常情況下,被干擾設(shè)備的尺寸要比干擾頻率的波長短得多,而設(shè)備的引線(包括電源線、通信線和接口電纜等)的長度則可能與干擾頻率的幾個波長相當(dāng),這樣,這些引線就可以通過傳導(dǎo)方式(zui終以射頻電壓和電流所形成的近場電磁干擾在設(shè)備內(nèi)部)對設(shè)備產(chǎn)生干擾。

5.2試驗?zāi)康?/span>

通過本標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的試驗,評價電氣和電子設(shè)備對由射頻場感應(yīng)所引起的傳導(dǎo)干擾的抗擾度。

注:對沒有傳導(dǎo)電纜(如電源線、信號線或地線)的設(shè)備,不需要進(jìn)行此項試驗。

5.3模擬試驗

模擬試驗的頻率范圍為150kHz～80MHz。當(dāng)試品尺寸較小時,可將上限頻率擴(kuò)展到230MHz。

此外,為提高試驗的難度,試驗中要用1kHz的正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制,調(diào)幅深度為80%。

5.4試驗的嚴(yán)酷度等級

升等級的試驗電壓見表6。

表6嚴(yán)酷度等級

等級

試驗電壓/V

123X

1310待定

嚴(yán)酷度等級的分類情況與IEC61000-4-3(GB/T17626.3)相同。

5.5基本試驗儀器

傳導(dǎo)干擾的試驗儀器的組成框圖如圖11所示。

(1)射頻信號發(fā)生器(帶寬150kHz～230MHz,有調(diào)幅功能,能自動或手動掃描,掃描點(diǎn)上的留駐時間可設(shè)定,信號的幅度可自動控制)。

(2)功率放大器(取決于試驗方法及試驗的嚴(yán)酷度等級)。

圖10單相系統(tǒng)的試驗線路

(a)用于線與線之間的耦合,發(fā)生器輸出浮置

(b)用于線與線之間的耦合,發(fā)生器輸出接地

圖11傳導(dǎo)干擾的試驗儀器

G1:RF發(fā)生器T1:可調(diào)衰減器PA:寬帶功率放大器

T2:固定衰減器(6dB)LPF/HPF:低通濾波器或高通濾波器

S1:RF開關(guān)

(3)低通和高通濾波器(用于避免信號諧波對試品產(chǎn)生干擾)。

(4)固定衰減器(衰減量固定為6dB。用以減少功放至耦合網(wǎng)絡(luò)間的不匹配程度,安裝時盡量靠近耦合網(wǎng)絡(luò))。

上述儀器如配上電子毫伏計、計算機(jī)等可組成自動測試系統(tǒng)。該文章講述了實驗干擾的起因分析.

5.6試驗方法

試驗一般可在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行。

干擾的注入方式有:耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)(在作電源線試驗時常用,當(dāng)信號線數(shù)目較少時也常采用);電流鉗和電磁耦合鉗(特別適合于對多芯電纜的試驗。其中電磁耦合鉗在1.5MHz以上頻率時對試驗結(jié)果有良好的再現(xiàn)性;當(dāng)頻率高于10MHz時,電磁耦合鉗比常規(guī)的電流鉗有較好的方向性,并且在輔助設(shè)備信號參考點(diǎn)與參考接地板之間不再要求有專門的阻抗,因此使用更方便)。

5.710V等級時,注入方式與功率放大器之間的關(guān)系(僅供參考)

10V等級時,注入方式與功率放大器的關(guān)系見表7。

表710V等級時,注入方式與功率放大器的關(guān)系

注入方式

功率方大器的輸出功率(W)

耦合/去耦網(wǎng)絡(luò)電流夾電磁耦合夾

717628

6IEC61000-4-11(GB/T17626.11)電壓跌落、短時中斷和電壓漸變的抗擾度試驗

6.1干擾的起因

電壓瞬時跌落、短時中斷是由電網(wǎng)、變電設(shè)施的故障或負(fù)荷突然出現(xiàn)大的變化所引起的。在某些情況下會出現(xiàn)兩次或更多次連續(xù)的跌落或中斷。電壓變化是由連接到電網(wǎng)的負(fù)荷連續(xù)變化引起的。

這些現(xiàn)象本質(zhì)上是隨機(jī)的,其特征表現(xiàn)為偏離額定電壓并持續(xù)一段時間。電壓瞬時跌落和短時中斷不總是突發(fā)的,因為與供電網(wǎng)絡(luò)相連的旋轉(zhuǎn)電機(jī)和保護(hù)元件有一定的反作用時間。如果大的電源網(wǎng)絡(luò)斷開(一個工廠的局部或一個地區(qū)中的較大范圍),電壓將由于有很多旋轉(zhuǎn)電機(jī)連接到電網(wǎng)上使之逐步降低。因為這些旋轉(zhuǎn)電機(jī)短期內(nèi)將作為發(fā)電機(jī)運(yùn)行,并向電網(wǎng)輸送電力,這就產(chǎn)生了電壓漸變。

作為大多數(shù)數(shù)據(jù)處理設(shè)備,一般都有內(nèi)置的斷電檢測裝置,以便在電源電壓恢復(fù)以后,設(shè)備按正確方式起動。但有些斷電檢測裝置對于電源電壓的逐漸降低卻不能快速作出反應(yīng),結(jié)果導(dǎo)致加在集成電路上的直流電壓,在斷電檢測裝置觸發(fā)以前已降低到zui低運(yùn)行電壓水平之下,由此造成了數(shù)據(jù)的丟失或改變。這樣,當(dāng)電源電壓恢復(fù)的時候,這個數(shù)據(jù)處理設(shè)備就不能正確再起動。

6.2試驗?zāi)康?/span>

IEC61000-4-11標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了不同類型的試驗來模擬電壓的突變效應(yīng),以便建立一種評價電氣和電子設(shè)備在經(jīng)受這種變化時的抗擾性通用準(zhǔn)則。其中對電壓漸變作為一種型式試驗,根據(jù)產(chǎn)品或有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定,用在特殊的和認(rèn)為合理的情況下。

6.33個專門的術(shù)語

(1)電壓瞬時跌落指在電氣系統(tǒng)的某一點(diǎn),電壓突變下降,在經(jīng)歷了半個周期到幾秒鐘的短暫持續(xù)期后,又恢復(fù)正常。

(2)短時中斷指供電電壓消失一段時間,一般不超過1min。短時中斷可認(rèn)為是*的幅值瞬時跌落。

(3)電壓漸變指供電電壓逐漸變得高于或低于額定電壓,變化的持續(xù)時間相對周期來說,可長可短。

6.4試驗的電壓等級

試驗的電壓等級分為兩種(見圖12和表8,表9)

表8電壓跌落和短時中斷的試驗等級

試驗等級

電壓跌落和短時中斷(%)

持續(xù)時間(周期)

0%UT40%UT70%UT

1006030

0.5,1,5,10,25,50X

表9電壓漸變的試驗等級

試驗等級

下降時間

保持時間

上升時間

40%UT0%UT

2s±20%2s±20%

1s±20%1s±20%

2s±20%2s±20%

6.5試驗儀器

主要指標(biāo)包括:

輸出電壓:精度±5%;

輸出電流能力:100%UT時≤16A,其他輸出電壓

圖12 電壓漸變試驗例

圖13用電子開關(guān)控制兩個獨(dú)立調(diào)壓器的結(jié)構(gòu)方式圖

14用波形發(fā)生器和功率放大器構(gòu)成試驗發(fā)生器的形式

時能維持恒功率,如70%UT時≤23A;40%UT時≤40A;

峰值起動電流能力:不超過500A(220V電壓時):250A(100V～120V電壓時);

突變電壓的上升或下降時間:1μs～5μs(接100Ω負(fù)載);

相位:0°～360°(準(zhǔn)確度為±10°);

輸出阻抗呈電阻性,并應(yīng)盡可能小。

實現(xiàn)上述功能的試驗儀器有兩種基本格式,分別見圖13和圖14所示。

圖13是一種價格相對比較便宜的試驗發(fā)生器形式,當(dāng)兩個開關(guān)同時分?jǐn)鄷r,便中斷輸出電壓(中斷時間可事前設(shè)定);當(dāng)兩個開關(guān)交替閉合時,便可模擬電壓的跌落或升高。發(fā)生器的開關(guān)可以由晶閘管或雙向晶閘管構(gòu)成,控制線路通常做成在電壓過零處接通和電流過零處斷開,所以這種線路只能模擬電壓切換的初始角度為0°和180°的情況,即使如此,由于儀器價格較低,也能滿足一般電氣與電子產(chǎn)品對電網(wǎng)干擾的抗擾度試驗需要,仍然獲得了廣泛的應(yīng)用。

圖14的這種發(fā)生器結(jié)構(gòu)比較復(fù)雜,造價也貴,但波形失真小,電壓切換的相位角度可以任意設(shè)定,也比較容易實現(xiàn)電壓漸變的試驗要求。

6.6試驗方法

根據(jù)選定的試驗等級及持續(xù)時間進(jìn)行試驗。試驗一般做3次,每次間隔時間為10s。

試驗在典型的工作狀態(tài)下進(jìn)行。

如果要規(guī)定電壓在特定角度上進(jìn)行切換,應(yīng)優(yōu)先選擇45°,90°,135°,180°,225°,270°和315°。一般選0°或180°。

對于三相系統(tǒng),一般是一相一相地進(jìn)行試驗。特殊情況下,要對三相同時做試驗,這時要求有3套試驗儀器同步進(jìn)行試驗。